점등 검사의 원리
검출원리
다양한 크기의 얼룩을 정의하고 이를 영상에 적용하여 얼룩을 검출함. 얼룩의 모양에 따라 비교하는 방법을 다르게 함. 다양한 크기와 모양의 얼룩에 대한 검출 알고리즘을 고속으로 수행.
검출 Process
검출 영상
White Dot
Black Dot
White Line
White Line
White Dot
Black Dot
Black Line
Black Line
Pol Scratch
Pol Scratch
Pattern Defect
White Gap
Mura
Leak Mura
Mura
Pol Defect
Pol Defeat
Side Mura
적용분야
- LCD/OELD 산업에 국한되지 않고, 각종 전자 부품 및 전방위 산업공정에 적용 가능
- 응용분야를 구분 분야 별로 정리하면,
- 전자 / 반도체 분야 : SMD소자, 반도체소자, Wafer, PCB, FPCB, 전자 부품 등
- Display 분야 : PDP, OLED, BLU, TSP, 광학 Film등
- 공정 자동화 분사 : 각종 부품 소자 및 철, 구리 알루미늄과 같은 금속재료의 표면처리 상태 검사