점등 검사의 원리

검출원리

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다양한 크기의 얼룩을 정의하고 이를 영상에 적용하여 얼룩을 검출함. 얼룩의 모양에 따라 비교하는 방법을 다르게 함. 다양한 크기와 모양의 얼룩에 대한 검출 알고리즘을 고속으로 수행.

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검출 Process

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검출 영상

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White Dot

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Black Dot

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White Line

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White Line

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White Dot

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Black Dot

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Black Line

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Black Line

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Pol Scratch

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Pol Scratch

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Pattern Defect

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White Gap

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Mura

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Leak Mura

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Mura

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Pol Defect

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Pol Defeat

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Side Mura

적용분야

  • LCD/OELD 산업에 국한되지 않고, 각종 전자 부품 및 전방위 산업공정에 적용 가능
  • 응용분야를 구분 분야 별로 정리하면,
  • 전자 / 반도체 분야 : SMD소자, 반도체소자, Wafer, PCB, FPCB, 전자 부품 등
  • Display 분야 : PDP, OLED, BLU, TSP, 광학 Film등
  • 공정 자동화 분사 : 각종 부품 소자 및 철, 구리 알루미늄과 같은 금속재료의 표면처리 상태 검사